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Chroma 7505-2線(xiàn)上型自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

主要特色：

• 適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜、RFID、FPC等連續(xù)式(Roll to Roll)制程在線(xiàn)實(shí)時(shí)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)
• 使用多支相機(jī)同時(shí)進(jìn)行取像，檢測(cè)速度達(dá)每分鐘3公尺
• 配備位置控制和反饋系統(tǒng)，可得到精確及清晰的掃描圖像
• 系統(tǒng)具備定位標(biāo)靶識(shí)別功能、地圖對(duì)應(yīng)功能
• 配備高分辨率線(xiàn)型掃描相機(jī)，可檢出氣泡及刮傷等臟污及瑕疵

本線(xiàn)上型自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)7505-02，主要運(yùn)用高速相機(jī)對(duì)ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等連續(xù)式(Roll to Roll)制程進(jìn)行影像拍攝，是以PC-based為架構(gòu)的線(xiàn)掃描(Line-scan)影像檢測(cè)系統(tǒng)。

7505-02應(yīng)用了視覺(jué)顯像檢測(cè)核心技術(shù)，例如: 高感光度線(xiàn)性?huà)呙柝?Line-scan)攝影機(jī)丶低像差變形鏡頭(Lens)丶高亮度燈源(Lighting)丶和高速影像擷取卡(Frame Grabber)等。透過(guò)即時(shí)的同步觸發(fā)取像并搭配高速的瑕疵檢出判斷技術(shù)，以及精準(zhǔn)的記憶體管控技術(shù)，7505-02因而達(dá)到了高速不中斷的連續(xù)檢測(cè)，進(jìn)行2D表面瑕疵分析。

能在越前面的制程及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題便能省下越多的成本，減少報(bào)廢及重工的費(fèi)用提升毛利率。將使客戶(hù)省下許多成本并順帶提高產(chǎn)能；此外，考慮到人員薪資也同時(shí)得在調(diào)漲，以自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備(AOI)來(lái)輔助人工檢測(cè)是現(xiàn)今產(chǎn)業(yè)發(fā)展的趨勢(shì)。7505-02即是專(zhuān)門(mén)取代部分人力，檢測(cè)軟性材料或薄膜上瑕疵的影像檢測(cè)系統(tǒng)。

考量到能使整體制程運(yùn)作不中斷，7505-02是以成為其中一個(gè)檢測(cè)站來(lái)設(shè)計(jì)；并運(yùn)用已存的CAD范例檔案來(lái)做比對(duì)，進(jìn)而使整體制程的流速達(dá)每分鐘三公尺。并且可以隨著制程的產(chǎn)品規(guī)格不同，同步的更新CAD檔來(lái)適應(yīng)客戶(hù)產(chǎn)品的發(fā)展。

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Chroma 7505-2線(xiàn)上型自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)