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中國臺灣益和MICROTEST 6632 精密阻抗分析儀
6632 精密阻抗分析儀,提供 6 種頻率選項(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz),可以進行交流信號的LCR測試,測試頻率和測試級別可進行連續(xù)變化的階段測量??稍诓煌瑴y試、模式條件下、進行高速地連續(xù)測試。提供輸出阻抗25?/100?可切換,ALC補償,多步測試;BIN 分類及比較器功能在自動元件生產時進行良品與不良品分類。內建直流偏置電壓±12V,並可選購外掛直流偏置電壓/電流 0到±40V/±100mA,精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖,提供量測電容之直流電壓特性;及選購等效電路分析功能支援7種不同的參數模型(三元件、四元件),可協助客戶模擬元件的等效參數值。可搭配 6210, 6220,或6240直流偏流源測試系統(tǒng) 。且支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面。
6632精密阻抗分析儀可搭配各式各樣的測試治具與配件。例如:介電常數測試治具 FX-0000C7,儀器內建公式直接算出材料介電數值 εr'、εr"。評估 PCB 空板或陶瓷板等。使用液態(tài)介電治具 FX-000C20,用來評估電化學材料特性分析。使用導磁係數測試治具 FX-0000C8,儀器內建公式直接算各種環(huán)形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽塗層材料的導磁系數 μr'、μr"。其內建的公式讓讓量測步驟變得更為簡易及快速。
量測精準度及多功能性為種不同類型的工作和應用程式高要求的蕞佳選擇,使用者包括半導體、元件廠商、研發(fā)單位、進料檢驗、實驗室、學生。
特色:
四顯參數 800*400 7 吋彩色螢幕,可以同時設定即顯示四種不同的參數。 | 校正 量測待測物之前,需要先做開路、短路、高頻負載校正、及定頻負載校正。 | |
DCR 量測電感 用於電感元件特性的量測,量測直流的電阻特性。一般用來評估電感的參數值為 Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電感匝數與繞線材料會影響DCR 值。 | 多步測試 多步列表測試自動編成功能,多 15 組 ( 可存 50 個編程 )。
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輸出阻抗 25?/100? 和自動電平控制 (ALC) 輸出阻抗 25?/100? 可以切換。自動電平控制 (ALC) 為工程師更精確量測元件。如積層陶瓷電容(MLCC),電容值>1uF,需打開ALC 量測, 因為電容值在量測時有可能會低於真實的電容量。一般評估電容的參數值有 Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。 | 介電治具/液態(tài)介電 使用介電常數測試治具 FX-0000C7,6630 內建公式直接算出材料介電數值 εr'、εr"。評估 PCB 空板或陶瓷板等。使用液態(tài)介電治具 FX-000C20,用來評估電化學材料特性分析。
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導磁係數 使用導磁係數測試治具 FX-0000C8,6630 內建公式直接算各種環(huán)形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽塗層材料的導磁系數 μr'、μr"。
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半導體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性 實測 Y5V 型 MLCC 元件的直流偏壓特性 ( 尺寸為 1206 搭載治具 FX-000C12) 在頻率 100Hz 下串聯電容值為 9.70uF,利用 6632 阻抗分析儀施加 DC Bias 電壓 ±12V,其電容值從 9.7uF 下降至 1.46uF。 | |
等效電路模型分析(選購) E模型適用於量測分析諧振器,上圖呈現出兩個共振頻率特性。一般諧振器、壓電片、或傳感器等元件在分析時,有別於其它元件的部份在於可能有一個以上的共振頻率。例如為了使壓電材料能以大的振幅出力,就需要精準的得知諧振頻率的範圍。如上圖所示,以此模型即可明確的分析出兩個共振點間的頻率。 | 7 種不同的模型,結合不同類型的參數 ( 電阻、電感、電容 ),目的是用三個或四個元素對阻抗與頻率特性進行建模。模擬自己的等效電路參數的阻抗軌跡值,然後將其與實際測量軌跡進行比較和參考自諧振頻率 (SRF)。 | |
PCB 板繞組電感線圈 汽車電源模組中越來越多採用多層 PCB 板繞組而成電感線圈的結構,因 PCB 蝕刻製程中寄生於銅箔繞組上的寄生電容、阻值損耗,會降低整體的電感量造成共振頻率 SRF 偏移,這些 PCB 不良品可能導致成品組裝測試出現 NG,可利用 6632 測量 PCB 線圈板重要參數 L/Q/DCR/Rs/SRF。
| RFID / NFC / 汽車無線天線評估阻抗特性 對於天線在實際運用上搭載周邊的線路時,針對發(fā)射端,天線一般連接在功率放大器 (PA),另一接收端,天線會接上 LNA,對於天線重的的特性即是阻抗的匹配,達到大的功率輸出。 | |
壓電元件/ 石英晶體分析頻率特性 精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖。分析壓電元件的關鍵參數如:Fs/Fp/Qm/Kp (機電耦合係數 )。 |
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中國臺灣益和MICROTEST 6632 精密阻抗分析儀
規(guī)格
測試頻率 | 6632-1/1S | 10Hz ~ 1MHz |
6632-3/3S | 10Hz ~ 3MHz | |
6632-5/5S | 10Hz ~ 5MHz | |
6632-10/10S | 10Hz ~ 10MHz | |
6632-20/20S | 10Hz ~ 20MHz | |
6632-30/30S | 10Hz ~ 30MHz | |
* S 為選購等效模型分析功能 | ||
小分辨率 | 100mHz, 6位元頻率輸入 | |
準確度 | 7 ppm±100mHz | |
基本測量準確度 | ± 0.08% (典型值± 0.05% ) | |
AC 測試信號位準
| 測試信號電壓範圍 | 10mV - 2Vrms |
電壓小分辨率 | 1mV | |
準確度 | ALC ON:6% * 設定電壓 ±2mV ALC OFF:10% * 設定電壓 ±2mV | |
測試信號電流範圍 | 200µA - 20mArms | |
電流小分辨率 | 10µA | |
準確度 | ALC ON:6% * 設定電流 ± 20µA ALC OFF:10% * 設定電流 ± 20µA | |
DC測試信號位準 | 1V (固定) | |
測量時間 | < 3mS | |
輸出阻抗 | 可切換25Ω、100Ω (標稱值) | |
測試參數 | |Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串並聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數)、Q(品質因數)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電係數)、μr (相對導磁係數) | |
Bias | 可搭配 DC Bias 6210/6220/6240 | |
測量模式 | 電錶模式、多步測試、掃描圖形分析、*等效電路模型分析(S型號 選購) | |
等效電路 | 串聯、並聯 | |
校正 | 開路、短路、負載 | |
多步列表測試 | 50組 ,每組15個測試步驟 | |
等效電路模型分析 (選購) | 三元件 (4 種模型)、四元件(3 種模型) | |
多步列表測試 | 50組多步測試設定(每組15個測試步驟) | |
內建直流偏置電壓 | -12 to +12V, 0.3% ±1.5mV, 100Hz to 30MHz | |
BIN分類 | 9級 (大) | |
比較器 | ABS、ΔABS、Δ%、OFF | |
內建儲存 | 100組LCR Meter測試設定文件 、50組多步測試設定 | |
USB Host 儲存 | LCR Meter測試設定文件、多步測試設定文件、BMP圖像、掃圖畫面及資料 | |
介面 | RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device | |
選購 | 電腦連線軟體 | |
等效電路模型分析,三元件 (4種模型)、四元件 (3種模型) | ||
外掛直流偏置電壓/電流 ( 0 到 ±40V/±100mA) | ||
電源需求 | 電壓 90-264Vac | |
頻率 47-63Hz | ||
低功耗:大30W | ||
液晶螢幕 | 7吋TFT, 彩色顯示 (800*480) | |
操作環(huán)境 | 溫度:10-40℃、濕度:20-90%RH | |
外觀尺寸(W*H*D) | 336x147x340 mm | |
重量 | 3.95Kg |
參數量測範圍
|Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
|Y| | 0.00000 μS to 999.999 kS |
G, B | ± 0.00000 μS to 999.999 kS |
θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
D | 0.00000 to 9999.99 |
Q | 0.00 to 9999.99 |
Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
εr' εr'' | 0 to 100000 |
μr' μr'' | 0 to 100000 |
應用範圍
被動元件 | 電容器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體 |
半導體元件 | 變容二極體之 cv 特性分析、二極體 |
介電質材料 | 塑膠、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估 |
導磁材料 | |
其他元件 | 電路板上的元件阻抗評估 |