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致茂Chroma 8800 被動(dòng)組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)開放性架構(gòu)軟件平臺(tái) -支持?jǐn)U增硬件 -支持含有GPIB / RS-232或RS-485接口儀器 -測(cè)試項(xiàng)目編輯功能 -測(cè)試程序編輯功能 -統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表功能 -使用者權(quán)限設(shè)定 -測(cè)試項(xiàng)目/程序控管功能 -人員進(jìn)出系統(tǒng)記錄 -支援Bar Code Reader測(cè)試命令編輯,幫助改善測(cè)試速度廣泛的模塊化硬件以提供高準(zhǔn)確及重復(fù)量測(cè)
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 8800 被動(dòng)組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
主要特色:
*測(cè)試項(xiàng)目可根據(jù)使用者需要不同樣式的待測(cè)物來編寫
產(chǎn)品應(yīng)用: UL type=disc>
近幾年來由于元件變得更加復(fù)雜與多通道等復(fù)合性問題,廠商于測(cè)試端的成本進(jìn)而增加,為了幫助廠商有效降低測(cè)試成本以及產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn),8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)因應(yīng)而生。8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以于一次測(cè)試程式中做完量測(cè)及測(cè)試的功能。此強(qiáng)大功能不但能節(jié)省時(shí)間,并減少人為操作的疏失。減少企業(yè)因不當(dāng)測(cè)試帶來的風(fēng)險(xiǎn),結(jié)合開放式軟體架構(gòu),提供使用者彈性,功能強(qiáng)大,具經(jīng)濟(jì)效益的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),滿足綜合元件測(cè)試方案使用。
8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可依照不同的測(cè)試需求,整合不同的測(cè)試儀器于系統(tǒng)內(nèi)。軟體為全開放式架構(gòu),依不同測(cè)試程序,不同產(chǎn)品皆可提供對(duì)應(yīng)方案,給予客戶蕞有彈性的測(cè)試組合。也提供使用者擴(kuò)充測(cè)試項(xiàng)目功能,若有新的需求,可以從測(cè)試項(xiàng)目編輯功能里,編輯想要的測(cè)試項(xiàng)目。
本自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)使用*的完美測(cè)試命令技術(shù)去避免重復(fù)的控制命令被送至系統(tǒng)硬體裝置,明顯的改善測(cè)試速度,使得8800雖采用開放式軟體架構(gòu),其效率卻如同封閉或蕞佳化的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)一樣高,構(gòu)成高效率與完美的元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。本系統(tǒng)提供的特殊測(cè)試編輯功能,可以讓使用者也能依據(jù)自己的需要建立新的測(cè)試項(xiàng)目,也使得使用者有能力去擴(kuò)增測(cè)試資料庫。
這套系統(tǒng)的開放性架構(gòu)軟體還包含統(tǒng)計(jì)分析與管理功能。這些功能使系統(tǒng)有能力產(chǎn)生各式不同的測(cè)試文件與執(zhí)行系統(tǒng)的管理。系統(tǒng)所提供的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能是*的,這對(duì)于現(xiàn)代化工廠的*與生產(chǎn)測(cè)試是重要,Chroma 8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是可工作在 WindowsR 2000/XP以上的作業(yè)環(huán)境,可以提供測(cè)試工程師一個(gè)容易學(xué)習(xí)的視窗環(huán)境與允許使用微軟所提供的系統(tǒng)資源。
8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可依照不同的測(cè)試需求,提供眾多變化的硬體選擇,整合不同的測(cè)試儀器于系統(tǒng)內(nèi)。如Chroma 13001元件測(cè)試掃描器,可提供多通道掃描功能,搭配Chroma 3302/3252/11022/11025 LCR表做電感值、電容值、電阻值等量測(cè),并包含圈數(shù)比(turn ration)量測(cè)(如果LCR表有提供此功能),也可以與Chroma 11200電容漏電流/絕緣電阻表配合絕緣電阻測(cè)試,并有專為漏感量測(cè)的短路設(shè)計(jì)。
8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)之中Chroma 13001元件測(cè)試掃描器搭配選配A113007的40 Channels掃描模組,單臺(tái)13001元件測(cè)試掃描器可多達(dá)320通道。8800除可接13001元件測(cè)試掃描器控制主機(jī),另可接擴(kuò)充高達(dá)8臺(tái)的Chroma 13001受控主機(jī)的部份,測(cè)試Channel數(shù)達(dá)2880,以滿足客戶更多通道數(shù)需求。
Chroma 8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),提供多步驟的測(cè)試程序,滿足多樣化測(cè)試應(yīng)用,如RJ-45設(shè)備(包含LAN Modules,Ethernet IC,PoE IC等)、玻璃基板(包含太陽能板)、LCD玻璃基板、玻璃印刷電路(包含觸控?zé)赡籺ouch panel等)、PCB、電路基板、EMI Filter、充電電池測(cè)試、 ICT應(yīng)用等應(yīng)用測(cè)試客戶。Chroma 8800元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供程序控制與資料收集功能。搭配自動(dòng)化可節(jié)省人力成本、減少人為疏失錯(cuò)誤、提升資料管理與品質(zhì)與效率。
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Model | Description | 詢價(jià) |
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8800 | 被動(dòng)組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) | |
LCR-Meter | Model 11022,11025,3302,3252系列 | |
Scanner | 組件測(cè)試掃描儀 : 13001 | |
Scanmodul | Refer to Model A130007 series | |
IR-Meter | 電容漏電流/絕緣電阻表 : Model 11200 | |
A800005 | PCI Bus GPIB卡(National Instrument) | |
致茂Chroma 8800 被動(dòng)組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)